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Hitachi Desktype Cooper 두께 테스터 CMI700 CMI760
$9500.00
≥1 Set/Sets
use:
- Other
- Cu thickness testing
| Model No. : | CMI700/CMI760 |
|---|---|
| Brand Name : | 히타치 |
| place of origin : | Japan |
제품 설명
CMI700 CU 두께 테스터 소개 :
CMI 700은 표면 구리를 측정하는 데 사용될 수 있으며 PCB의 구멍 구리 두께를 통해 구멍을 뚫을 수 있습니다. 이 고도로 확장 가능한 벤치 탑 두께 게이지 시스템은 미세 저항성 및 와상 전류 방법을 모두 사용하여 표면과 구멍 내부의 구리 두께의 정확하고 정확한 측정을 달성합니다.
CMI700 기능 :
기능 1. PCB 표면 구리 정화 (미세 저항 원리)
미세 저항의 원리를 사용하여 SRP-4 프로브 및 표준 플레이트가 장착되어 있으며, 넓은 면적 또는 작은 구리 호일 두께를 측정 할 수 있습니다.
측정 범위 : 1-300um
기능 2, PCB 홀 구리 측정 (와상 전류 및 미세 저항 원리)
ETP 프로브 및 표준 플레이트가 장착 된 M PCB 보드의 PTH 구멍에서 구리 두께를 완화시킵니다.
조리개 측정 : 875-1400UM
CMI700에 대한 기술 데이터 :
저장 용량 : 8000 바이트, 비 휘발성
길이 : 29.21 × 26.67 × 13.97cm (11 1/2 × 10 1/2 × 5 1/2 인치)
체중 : 2.79kg (6 파운드)
단위 변경 : 단일 버튼으로 제국 및 메트릭 시스템의 자동 변경
단위 : 디스플레이 장치로 MILS, μM, μin, mm, in 또는 %를 선택하십시오.
인터페이스 : 프린터 또는 컴퓨터에 다운로드하기위한 조정 가능한 보드 속도가있는 RS-232 직렬 인터페이스
디스플레이 : 백라이트 및 넓은 시청각이있는 대형 LCD 디스플레이, 480 (h) x 32 (v) 픽셀
통계 표시 : 측정 횟수, 표준 편차, 평균 값, 큰 값, 작은 값
통계 보고서 : 직렬 프린터 또는 PC 컴퓨터 다운로드, 저장 위치, 스토리지 위치, 측정 횟수, 구리 포일 유형, 선형 구리선 와이어 폭, 측정 날짜/시간, 평균 값, 표준 편차, 분산 백분율, 정확도, 값, 값, 범위 , CPK 값, 단일 읽기, 타임 스탬프, 히스토그램
차트 : 히스토그램, 추세 차트, XR 차트 정확도 : ± 1% (± 0.1μm) 참조 표준 필름
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CMI95M |
CMI165 |
CMI511(CMI500) |
CMI563 |
CMI760(CMI700) |
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Technique |
Microresistance |
microresistance |
Eddy curreny |
microresistance |
microresistance |
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Cooper Foil |
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× |
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Cooper Clad Laminate(CCL) |
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× |
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Cooper-Surface |
× |
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× |
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√ |
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Cooper-Fineline |
× |
√ |
× |
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√ |
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Cooper Thru-hole |
× |
× |
√ |
× |
optional |
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Temperature Compensation |
× |
√ |
√ |
× |
√ (ETP Probe) |
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Replacement Probe Tip |
× |
√ |
× |
√ |
√ (SRP-4 Probe) |
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Unit Selection |
oz or um |
mil or um |
mil or um |
mil or um |
mil or um |
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Thickness Range |
8 indicator lights 1/8-4 oz 5-140 um |
Electroless Cu 0.01-0.5 mil 0.25-12.7 um Electroplated Cu 0.1-10 mil 2-254 um |
0.08-4.0 mil 2-102 um |
Electroless Cu 0.01-0.5 mil 0.25-12.7 um Electroplated Cu 0.1-6 mil 3-152 um |
Surface Cu 0.01-10 mil 0.25-254 um Thru-hole Cu 0.05-4 mil 1-102um |
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